
天津国电仪讯科技有限公司
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网络分析仪时域变换模式通常采用逆Z变换,带宽方式可选低通模式或带通模式。低通模式一般用来进行宽带DUT测试,如电缆和接插件测试;带通模式通常用于窄带或高通滤波DUT。低通模式可选择低冲响应或低通阶跃响应,脉冲响应常用来传输线和接头坏点测试;阶跃响应常用来阻抗测试。低通模式需要虚拟补齐0频和负频率频响值,在-SPAN~+SPAN范围内时域变换。
使用网络分析仪时域功能的工程师经常困惑时域指标问题,通常在网络分析仪指标手册上查不到,而是由频域响应计算得来,取决于网络分析仪频域指标,带宽(SPAN)、频点间隔(STEP)、点数(PNTS)和窗型。






内部信号源也可用于测试频率转换器件如混频器或变频器,测试时除输入激励之外还需要LO信号。第二个信号源对扫描LO测试十分有用,在测试时LO信号连同射频输入信号一起被扫描,但保证RF信号和LO信号的频率差是固定的。这个方法常用于测量宽带变频器的前端元件。与使用外部信号发生器相比,使用从VNA内部信号源引出的信号作为LO信号在测试速度上有几位明显的改善(使用PNA-X的测试速度比传统方法的测试速度可5倍)。
基于VNA的测试系统为测量无线通信和航空/系统中所使用的射频和微波元件提供了动力。与传统VNA相比,Agilent PNA-X微波网络分析仪的先进体系结构具有更大的灵活性,使工程师们可以通过一次连接便能测量各种各样的元件。PNA-X内主要的增加项是第二个信号源和内部宽带信号合路器,从而简化了放大器、混频器和变频器的测量。除S参数、压缩和谐波的传统单信号源测量之外,两个信号源还可用于IMD、相位随驱动的变化、热态S参数和真实激励模式的测试。PNA-X端口上信号源的高功率输出、低谐波和宽功率扫描范围的属性完全适应当前器件的测试要求。

吴经理先生
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